Mentor Graphics T3Ster熱阻測試儀熱測試儀

   上海小糸車燈有限公司是中外合資企業(yè)，創(chuàng)建于1989年2月28日。中方股東為華域汽車系統(tǒng)股份有限公司，外方股東為株式會社小糸制作所和豐田通商株式會社。 公司專業(yè)生產(chǎn)銷售各種汽車電子照明燈具，共6大系列，500多個品種。公司產(chǎn)品主要為上海通用、上海大眾、上汽股份、天津一汽豐田、一汽大眾、東風日產(chǎn)、東風乘用車、長安福特、長安鈴木、安徽奇瑞、北京吉普、四川豐田等主機廠配套。此外，公司大力開拓國際市場，已有40多種產(chǎn)品出口北美、日本等國際市場。

   上海歐可電子科技有限公司作為上海小糸車燈有限公司的合作伙伴，根據(jù)現(xiàn)場需求及技術指標，為上海上海小糸車燈有限公司選定了Mentor Graphics T3Ster熱阻測試儀熱測試儀，并且現(xiàn)場已經(jīng)安裝調(diào)試完成，可以出色的滿足客戶的需求。

    T3Ster是MicReD研發(fā)制造的先進的熱測試儀，用于測試IC、LED、散熱器、熱管等電子器件的熱特性。T3Ster基于先進的JEDEC ‘Static Method’測試方法（JESD51-1），通過改變電子器件的輸入功率，使得器件產(chǎn)生溫度變化，在變化過程中，T3Ster測試出芯片的瞬態(tài)溫度響應曲線，僅在幾分鐘之內(nèi)即可分析得到關于該電子器件的全面的熱特性。T3Ster測試技術不是基于“脈沖方法”的熱測試儀，“脈沖方法”由于是基于延時測量的技術所以其測出的溫度瞬態(tài)測試曲線精度不高，而T3Ster 采用的是“運行中”的實時測量的方法，結(jié)合其精密的硬件可以快速精確撲捉到高信噪比的溫度瞬態(tài)曲線。

      T3Ster運用先進的JEDEC穩(wěn)態(tài)實時測試方法（JESD51-1），專業(yè)測試各類IC（包括二極管、三極管、MOSFET、SOC、MEMS等）、LED、散熱器、熱管、PCB及導熱材料等的熱阻、熱容及導熱系數(shù)、接觸熱阻等熱特性。配合專為LED產(chǎn)業(yè)開發(fā)的選配件TERALED可以實現(xiàn)LED器件和組件的光熱一體化測量。 符合JEDEC JESD51-1和MIL-STD-750E標準法規(guī)。

T3Ster熱阻測試儀工作原理                   

T3Ster設備提供了非破壞性的熱測試方法，其原理為：

1) 首先通過改變電子器件的功率輸入；

2) 通過TSP (Temperature Sensitive Parameter熱敏參數(shù))測試出電子器件的瞬態(tài)溫度變化曲線；

3) 對溫度變化曲線進行數(shù)值處理，抽取出結(jié)構函數(shù)；

4) 從結(jié)構函數(shù)中自動分析出熱阻和熱容等熱屬性參數(shù)。

T3Ster熱阻測試儀設備參數(shù)

1）各種三極管、二極管等半導體分立器件，包括：常見的半導體閘流管、雙極型晶體管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件。

2）各種復雜的IC以及MCM、SIP、SoC等新型結(jié)構 。

3）各種復雜的散熱模組的熱特性測試，如熱管、風扇等。

4）半導體器件結(jié)溫測量。

5）半導體器件穩(wěn)態(tài)熱阻及瞬態(tài)熱阻抗測量。

6）半導體器件封裝內(nèi)部結(jié)構分析，包括器件封裝內(nèi)部每層結(jié)構（芯片+焊接層+熱沉等）的熱阻和熱容參數(shù)。

7）半導體器件老化試驗分析和封裝缺陷診斷，幫助用戶準確定位封裝內(nèi)部的缺陷結(jié)構。

8）材料熱特性測量（導熱系數(shù)和比熱容）。

9）接觸熱阻測量，包括導熱膠、新型熱接觸材料的導熱性能測試。